Elektron- és ionsugaras analitikai módszerek pásztázó elektronmikroszkópban (elmélet és gyakorlat külön napon)
Hosted by HCHiP
Registration
5 Spots Remaining
Hurry up and register before the event fills up!
Approval Required
Your registration is subject to host approval.
About Event
Gyakorlatorientált bevezetés a modern anyagvizsgálati és hibafeltárási technológiák világába egy korszerű, nagy felbontású DualBeam FIB-SEM rendszeren.
December 1. 10:00-14:30: elmélet
December 2. 10:00-14:30: laborgyakorlat
Kérjük, hogy a résztvevők mindkét nap 9:45-re érkezzenek a KFKI portájához, hogy a beléptetés és az épülethez való eljutás után a tréning 10:00-kor megkezdődhessen.
A képzésen való részvétel hazai kis- és középvállalkozások szakemberei számára ingyenes.
A képzés a Magyar Chip Kompetenciaközpont (HCHiP) szervezésében valósul meg.
hchip.hu
Location
KFKI Telephely
Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33, 1121 Hungary
26-os épület, Tanácsterem.
A KFKI telephelyre belépni csak 14 év felett, előzetes egyeztetés és fényképes személyazonosító okmány bemutatásával lehet.
Ezúton tájékoztatjuk, hogy a telephelyre történő belépéssel elfogadja a mindenkori Telephelyi Biztonsági és Vagyonvédelmi Szabályzatot. A szabályzat itt érhető el: https://kfkiuzemelteto.hu/wp-content/uploads/2025/…