Elektron- és ionsugaras analitikai módszerek pásztázó elektronmikroszkópban
Hosted by HCHiP
Registration
Registration Closed
This event is not currently taking registrations. You may contact the host or subscribe to receive updates.
About Event
Gyakorlatorientált bevezetés a modern anyagvizsgálati és hibafeltárási technológiák világába egy korszerű, nagy felbontású DualBeam FIB-SEM rendszeren.
4 óra elmélet + 4 óra laborgyakorlat
Kérjük, hogy a résztvevők 7:45-re érkezzenek a KFKI portájához, hogy a beléptetés és az épülethez való eljutás után a tréning 8:00-kor megkezdődhessen.
A képzésen való részvétel hazai kis- és középvállalkozások szakemberei számára ingyenes.
A képzés a Magyar Chip Kompetenciaközpont (HCHiP) szervezésében valósul meg.
hchip.hu
Location
KFKI Telephely
Budapest, Konkoly-Thege Miklós út 29-33, 1121 Hungary
26-os épület, Tanácsterem.
A KFKI telephelyre belépni csak 14 év felett, előzetes egyeztetés és fényképes személyazonosító okmány bemutatásával lehet.
Ezúton tájékoztatjuk, hogy a telephelyre történő belépéssel elfogadja a mindenkori Telephelyi Biztonsági és Vagyonvédelmi Szabályzatot. A szabályzat itt érhető el: https://kfkiuzemelteto.hu/wp-content/uploads/2025/…